Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000631111
Navigace: https://aleph22.vkol.cz/pub / svk01 / 00063xxxx / 0006311xx / 000631111.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
ISBN | (Brož.) |
MDT | (043.3) |
MDT | 544.163.2 |
MDT | 548.7 |
MDT | 661.665.1 |
HZ-Osobní jméno | Dalibor, Thomas Erich, 1968- |
Názvové údaje | Deep defect centers in 4H and 6H Silicon Carbide / Thomas Erich Dalibor |
Nakladatel.údaje | 2002 |
Údaje fyz.popisu | vi, 162 s. : il., tab. ; 21 cm |
Pozn.o disertaci | Dissertation--Naturwissenschaftliche Fakultät der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg |
Pozn.o bibliogr. | Bibliografie na s. 153-162 |
Předm.-Věc.téma | karbid křemičitý |
Předm.-Věc.téma | strukturní analýza |
Žánr/forma | disertace |
VZ-Korporace | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg. Naturwissenschaftliche Fakultät |
Sigla,sign.vlastn. | OLA001 1-136.524 |
Počet exemplářů | 1 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.