Chcete-li získat tento dokument, vstupte
přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the
online catalog.
Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000021415
Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00002xxxx / 0000214xx / 000021415.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
| ISBN | 0-306-44175-6 (váz) |
| Názvové údaje | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis |
| Údaje o vydání | 2nd ed |
| Nakladatel.údaje | New York : Plenum, 1992 |
| Údaje fyz.popisu | 18, 820 s |
| Všeobecná pozn. | Bibliogr. na s. 787-805 |
| Sigla,sign.vlastn. | OLA001 II 825.767 |
| Počet exemplářů | 1 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.