Chcete-li získat tento dokument, vstupte
přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the
online catalog.
Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000037592
Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00003xxxx / 0000375xx / 000037592.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
| ISBN | (brož) : bc |
| MDT | 681.3.02 |
| HZ-Osobní jméno | Kirsch, Karlheinz Friedrich |
| Názvové údaje | Entwicklung von Verfahren zur Abschätzung der Chipfläche, Laufzeiten und Verlustleistung integrierter Schaltungen [disertace] |
| Nakladatel.údaje | Erlangen : [vl.n.], 1993 |
| Údaje fyz.popisu | 3, 189 s |
| Všeobecná pozn. | Diss. - Bibliogr. s. 163-174 |
| Sigla,sign.vlastn. | OLA001 767.841 |
| Počet exemplářů | 1 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.