Chcete-li získat tento dokument, vstupte
přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the
online catalog.
Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000048055
Navigace: https://aleph22.vkol.cz/pub / svk01 / 00004xxxx / 0000480xx / 000048055.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
| ISBN | 0-444-88619-2 (váz) : bc |
| MDT | 678.84 |
| Názvové údaje | Defects in Silicon : Proceedings of Symposium B on Science and Technology of Defects ... of the 1989 E-MRS Conf / Ed. by C. A. J. Ammerlaan |
| Nakladatel.údaje | Amsterdam : North-Holland, 1989 |
| Údaje fyz.popisu | 12, 505 s |
| Edice-jiná forma | European Materials Res. Society Symposia Proceedings ; Vol. 9 |
| Edice-jiná forma | Zvl. ot.: Materials Science & Engineering ; Vol. B4. 1989. 1-4 |
| Všeobecná pozn. | Bibliogr. na konci kapitol |
| VZ-Osobní jm. | Ammerlaan, C. A. J. |
| VZ-Edice-Unif.náz. | European Materials Res. Society Symposia Proceedings |
| VZ-Edice-Unif.náz. | Zvl. ot.: Materials Science & Engineering |
| Sigla,sign.vlastn. | OLA001 II 858.321 |
| Předmět.hesla | Silikony vlastnosti vady |
| Počet exemplářů | 1 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.