Chcete-li získat tento dokument, vstupte
přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the
online catalog.
Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000067893
Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00006xxxx / 0000678xx / 000067893.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
| ISBN | (brož) : bc |
| MDT | 535.8 |
| MDT | 537.2 |
| MDT | 537.222.22:535.82 |
| HZ-Osobní jméno | Teuschler, Thomas |
| Názvové údaje | Zur Charakterisierung von Halbleiterstrukturen und Strukturierung von Halbleiteroberflächen mit Rastersondenmikroskopen [disertace] |
| Nakladatel.údaje | Erlangen : [vl. n.], 1996 |
| Údaje fyz.popisu | 149 s |
| Všeobecná pozn. | Diss. - Bibliogr. s. 129-144 |
| Sigla,sign.vlastn. | OLA001 778.494 |
| Počet exemplářů | 1 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.