Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000645274

Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00064xxxx / 0006452xx / 000645274.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-214-2342-0 (brož.)
Kód jazykacze eng
Kód předm.kateg.621.3 Elektrotechnika
MDT(048.3)
MDT519.673
MDT621.3.011.7.037.37
HZ-Osobní jménoRůžička, Richard, 1975-
Názvové údajeFormální přístup k analýze testovatelnosti číslicových obvodů na úrovni RT = Formal approach to the testability analysis of RT level digital circuits : zkrácená verze PhD Thesis / Richard Růžička
Varianta názvuFormal approach to the testability analysis of RT level digital circuits
Nakladatel.údajeV Brně : Vysoké učení technické, Fakulta informačních technologií, Ústav počítačových systémů, 2002
Údaje fyz.popisu31 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaVědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis. sv. 174, 1213-4198
Všeobecná pozn.Anglické resumé
Všeobecná pozn.Obor: Informační technologie
Pozn.o disertaciDisertace
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Předm.-Věc.témadigitální obvody
Předm.-Věc.témamatematické modelování
Žánr/formadisertace
Žánr/formateze
VZ-Edice-Unif.náz. Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis. sv. 174
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-138.494
Počet exemplářů1
Vydáno sev.Mor.e-xr-jm

Úvodní stránka katalogu. O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.