Chcete-li získat tento dokument, vstupte
přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the
online catalog.
Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000719411
Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00071xxxx / 0007194xx / 000719411.htm
Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.
| Názvové údaje | Symposium on Test Methods and Measuremenst of Semiconductor Devices. : Budapest, April 25-28 1967 |
| Nakladatel.údaje | Budapest : b.n., 1967 |
| Údaje fyz.popisu | 2 sv. |
| Všeobecná pozn. | Bibliogr. na konci kapitol. |
| Form.pozn.k obsahu | 1. [díl]. 1967. Přeruš. str. -- 2. [díl]. 1967. Přeruš. str. |
| Sigla,sign.vlastn. | OLA001 II 331.518 |
| Počet exemplářů | 2 |
Úvodní stránka katalogu.
O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.