Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000755951

Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00075xxxx / 0007559xx / 000755951.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-214-2800-7 (brož.)
Kód jazykacze eng
Kód předm.kateg.681.5 Automatizační a řídicí technika
MDT681.518.5+620.1
MDT004.312
MDT681.5
MDT(048.3)
HZ-Osobní jménoStrnadel, Josef, 1977-
Názvové údajeAnalýza a zlepšení testovatelnosti číslicového obvodu na úrovni meziregistrových přenosů : zkrácená verze Ph.D. Thesis, obor Informační technologie = Testability analysis and improvements of register-transfer leel digital circuits / Strnadel, Josef
Varianta názvuTestability analysis and improvements of register-transfer leel digital circuits
Nakladatel.údajeV Brně : Vysoké učení technické, Fakulta informačních technologií, Ústav počítačových systémů, 2004
Údaje fyz.popisu31 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaVědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, 1213-4198 ; sv. 284
Všeobecná pozn.Životopisná data
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Pozn.o jazykuAnglické resumé
Předm.-Věc.tématechnická diagnostika
Předm.-Věc.témalogické obvody
Předm.-Věc.témalogické řízení
Žánr/formadisertace
Žánr/formateze
VZ-Edice-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-156.594
Počet exemplářů1
Vydáno sev.Mor.e-xr-jm