Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000764310

Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00076xxxx / 0007643xx / 000764310.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-01-03230-2 (brož.)
Kód jazykaeng cze
Kód předm.kateg.535 Optika
MDT535.42
MDT535.421
MDT(043.5:042.3)
HZ-Osobní jménoRichter, Ivan, 1968-
Názvové údajeMethods of diffraction grating analysis and their applications = Metody analýzy difrakčních mřížek a jejich využití / Ivan Richter
Varianta názvuMetody analýzy difrakčních mřížek a jejich využití
Nakladatel.údajeV Praze : České vysoké učení technické, 2005
Údaje fyz.popisu22 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaHabilitační přednášky ; 11/2005
Všeobecná pozn.Nad názvem: Czech Technical University in Prague, Faculty of Nuclear Sciences and Physical Engineering
Všeobecná pozn.150 výt.
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Pozn.o jazykuČeské resumé
Předm.-Věc.témadifrakce
Předm.-Věc.témaoptické difrakční mřížky
Žánr/formahabilitační přednášky
VZ-KorporaceČeské vysoké učení technické v Praze. Jaderná a fyzikálně inženýrská fakulta
VZ-Edice-KorporaceČeské vysoké učení technické v Praze. Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Habilitační přednášky
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-160.723
Počet exemplářů1

Úvodní stránka katalogu. O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.