Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000799034

Navigace: https://aleph22.vkol.cz/pub / svk01 / 00079xxxx / 0007990xx / 000799034.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-214-3138-5 (brož.)
Kód jazykacze eng
Kód předm.kateg.53 Fyzika
MDT531.715
MDT681.785.3
MDT539.216
MDT53.08
MDT(043.3)
MDT(048.3)
HZ-Osobní jménoTichopádek, Petr, 1974-
Názvové údajeElipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Petr Tichopádek
Varianta názvuEllipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus
Nakladatel.údaje[Brno : Vysoké učení technické], c2006
Údaje fyz.popisu31 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaVědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, 1213-4198 ; sv. 364
Všeobecná pozn.Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2006
Všeobecná pozn.Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství-Tit. s.
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Pozn.o jazykuAnglické resumé
Předm.-Věc.témaelipsometrie
Předm.-Věc.témaelipsometry
Předm.-Věc.tématenké vrstvy
Předm.-Věc.témafyzikální měření
Předm.-angl.ellipsometry
Předm.-angl.ellipsometers
Předm.-angl.thin films
Předm.-angl.physical measurements
Žánr/formadisertace
Žánr/formateze
Žánr/formadissertations
Žánr/formaabstracts
VZ-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství
VZ-Edice-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis
ISBN-pom.údaje[1. vyd.] 20060712
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-173.795
Fakturace seriály1
Vydáno sev.Mor.e-xr-jm

Úvodní stránka katalogu. O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.