Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000810165

Navigace: https://aleph22.vkol.cz/pub / svk01 / 00081xxxx / 0008101xx / 000810165.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-214-3209-8 (brož.)
Kód jazykacze eng
Kód předm.kateg.543 Analytická chemie
MDT543.428.4
MDT538.975
MDT539.211
MDT(043.3)
MDT(048.3)
HZ-Osobní jménoČechal, Jan, 1978-
Názvové údajeAnalýza povrchů a tenkých vrstev využitím fotoelektronové spektroskopie = Surface and thin film analysis by photoelectron spectroscopy : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Jan Čechal
Varianta názvuSurface and thin film analysis by photoelectron spectroscopy
Nakladatel.údaje[V Brně : Vysoké učení technické], c2006
Údaje fyz.popisu26 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaVědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, 1213-4198 ; sv. 382
Všeobecná pozn.Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2006
Všeobecná pozn.Studijní obor: Fyzikální a materiálové inženýrství--Tit. s.
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Pozn.o jazykuAnglické resumé
Předm.-Věc.témafotoelektronová spektroskopie
Předm.-Věc.témafyzika tenkých vrstev
Předm.-Věc.témafyzika povrchů pevných látek
Předm.-angl.photoelectric spectroscopy
Předm.-angl.physics of thin layers
Předm.-angl.surfaces (physics)
Žánr/formadisertace
Žánr/formateze
Žánr/formadissertations
Žánr/formaabstracts
VZ-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství
VZ-Edice-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis
ISBN-pom.údaje[1. vyd.] 20061205
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-177.172
Fakturace seriály1
Vydáno sev.Mor.e-xr-jm
Elektron.přístupobsah dokumentu

Úvodní stránka katalogu. O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.