Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 000810195

Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00081xxxx / 0008101xx / 000810195.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN80-214-3221-7 (brož.)
Kód jazykacze eng
Kód předm.kateg.535 Optika
MDT535.651:535-34
MDT543.427
MDT543.42
MDT(043.3)
MDT(048.3)
HZ-Osobní jménoPrůša, Stanislav, 1971-
Názvové údajeVývoj ToF LEIS spektrometru pro zkoumání povrchů a tenkých vrstev = Development of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Stanislav Průša
Varianta názvuDevelopment of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis
Nakladatel.údaje[V Brně : Vysoké učení technické], c2006
Údaje fyz.popisu32 s. : il. ; 21 cm
Edice-jiná formaVědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis, 1213-4198 ; sv. 383
Všeobecná pozn.Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2003
Všeobecná pozn.Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství--Tit. s.
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii
Pozn.o jazykuAnglické resumé
Předm.-Věc.témarentgenová spektroskopie
Předm.-Věc.témaspektrální analýza
Předm.-angl.X-ray spectrometry
Předm.-angl.spectrum analysis
Žánr/formadisertace
Žánr/formateze
Žánr/formadissertations
Žánr/formaabstracts
VZ-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství
VZ-Edice-KorporaceVysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis
ISBN-pom.údaje[1. vyd.] 20061205
Sigla,sign.vlastn.OLA001 1-177.190
Počet exemplářů1
Vydáno sev.Mor.e-xr-jm
Elektron.přístupobsah dokumentu

Úvodní stránka katalogu. O úroveň zpět..
© 2007 Ex Libris & Vědecká knihovna v Olomouci - webmaster.