Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK01, záznam 001353593

Navigace: https://aleph.vkol.cz/pub / svk01 / 00135xxxx / 0013535xx / 001353593.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

ISBN978-80-01-06832-8
Kód jazykacze cze eng
Kód předm.kateg.53 Fyzika
MDT53.082.5
MDT539.216
MDT(042.3)
MDT(0.034.44)
HZ-Osobní jménoHlubina, Petr
Názvové údajeOptické metody charakterizace tenkých a plazmonických vrstev = Optical methods of characterization of thin and plasmonic films / Petr Hlubina
Varianta názvuOptical methods of characterization of thin and plasmonic films
Údaje o vydání1. vydání elektronicky
NakladatelV Praze : České vysoké učení technické, [2021]
Copyright©2021
Údaje fyz.popisu1 CD-ROM (31 stran) : barevné ilustrace ; 12 cm
Typ obsahutext txt
Typ médiapočítač c
Typ nosičepočítačový disk cd
Char. dig. souborutextový soubor PDF
Všeobecná pozn.Název z titulní stránky
Všeobecná pozn.Nad názvem: České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská
Pozn.o bibliogr.Obsahuje bibliografii a bibliografické odkazy
Předm.-Věc.témaoptická měření
Předm.-Věc.tématenké vrstvy
Předm.-angl.optical measurements
Předm.-angl.thin films
Žánr/formapřednášky
Žánr/formaCD-ROM
Žánr/formalectures
Žánr/formaCD-ROM
VZ-KorporaceČeské vysoké učení technické v Praze. Jaderná a fyzikálně inženýrská fakulta
Sigla,sign.vlastn.OLA001 CR 8612
Počet exemplářů1