Katalog Vědecké knihovny v Olomouci -- Způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů a zařízení k jeho provádění Method of analyzing material by a focused electron beam by making use of characteristic X-ray radiation and knocked-on electrons and apparatus for making the same -- OLA001 303228

Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK06, záznam 000303228

Navigace: http://aleph.vkol.cz/pub / svk06 / 00030xxxx / 0003032xx / 000303228.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.

Formát	BK
Návěští	-----nam--22--------450-
Identif.č.záznamu	upv000303228
Datum+čas posl.zpr.	20120711
Všeob.údaje zprac.	20110323d2012----km-y0czey0103----ba
Jazyk popisné jedn.	cze
Země vydání dokum.	CZ
Název a odpovědnost	Způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů a zařízení k jeho provádění Method of analyzing material by a focused electron beam by making use of characteristic X-ray radiation and knocked-on electrons and apparatus for making the same
Nakladatelské údaje	Praha Úřad průmyslového vlastnictví 2012
Obecné poznámky	Číslo přihlášky: 2011-154
Obecné poznámky	Datum podání přihlášky: 20110323
Obecné poznámky	Datum zveřejnění přihlášky: 20120606
Anotace, referát	Je řešen způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem a zařízení k jeho provádění, kdy se vytváří elektronová mapa B popisující intenzitu emise zpětně odražených elektronů v různých bodech na vzorku a spektrální mapa S popisující intenzitu emise rentgenového záření v bodech na vzorku v závislosti na energii záření. Pro vybrané chemické prvky se vytvoří rentgenové mapy M.sub.i.n. vyjadřující intenzitu rentgenového záření charakteristického pro tyto prvky. Rentgenové mapy M.sub.i.n. a elektronová mapa B se převedou na diferenční rentgenové mapy D.sub.i.n., které se následně sloučí do výsledné diferenční mapy D. Výsledná diferenční mapa D je poté použita pro vyhledání částic. Následně se pro každou částici vypočte kumulované spektrum X.sub.j.n. rentgenového záření, přičemž body na vzorku na okraji částice mají nižší váhu než body uvnitř částice. Z kumulovaného spektra X.sub.j.n. se následně pomocí kvantitativní spektroskopické analýzy určí procentuální zastoupení chemických prvků v této částici. cze
Souběžný název	Method of analyzing material by a focused electron beam by making use of characteristic X-ray radiation and knocked-on electrons and apparatus for making the same
Další system.sel.j.	G01N 23/22 MPT
Další system.sel.j.	G01N 23/20 MPT
Další system.sel.j.	G01N 23/223 MPT
Další system.sel.j.	G01N 23/225 MPT
Další system.sel.j.	G01Q 30/00 MPT
Další system.sel.j.	H01J 37/26 MPT
Osobní jm.-sekund.o	Dokulilová Silvie Brno (CZ) p
Osobní jm.-sekund.o	Dušková Hana Na Kočově 180, Chotutice 28103 (CZ) z
Osobní jm.-sekund.o	Filip Vojtěch Brno (CZ) p
Osobní jm.-sekund.o	Motl David Brno (CZ) p
Korpor.,akce-sek.o.	TESCAN a.s. Brno (CZ) m
Zdroj.pův.katalog.	CZ ÚPV 20120606
Zdroj.pův.katalog.	CZ OLA001 20120711
Sigla,sign.vlastn.	OLA001 303228
Počet exemplářů	1
Logická báze	B6
Katalogizátor	20120711 SVK06 0745