Katalog Vědecké knihovny v Olomouci -- Soustava pro měření zbytkových napětí v polykrystalických materiálech metodou rentgenové difrakce System for measuring residual tension in polycrystalline materials using X-ray diffraction method -- OLA001 305286

Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK06, záznam 000305286

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog.

Formát	BK
Návěští	-----nam--22--------450-
Identif.č.záznamu	upv000305286
Datum+čas posl.zpr.	20150803
Všeob.údaje zprac.	20140717d2015----km-y0czey0103----ba
Jazyk popisné jedn.	cze
Země vydání dokum.	CZ
Název a odpovědnost	Soustava pro měření zbytkových napětí v polykrystalických materiálech metodou rentgenové difrakce System for measuring residual tension in polycrystalline materials using X-ray diffraction method
Nakladatelské údaje	Praha Úřad průmyslového vlastnictví 2015
Obecné poznámky	Číslo přihlášky: 2014-500
Obecné poznámky	Datum podání přihlášky: 20140717
Obecné poznámky	Datum zveřejnění přihlášky: 20150715
Souběžný název	System for measuring residual tension in polycrystalline materials using X-ray diffraction method
Další system.sel.j.	B25J 9/00 MPT
Další system.sel.j.	G01L 1/25 MPT
Další system.sel.j.	G01N 23/00 MPT
Další system.sel.j.	G01N 23/083 MPT
Osobní jm.-sekund.o	Čapek Jiří Věž (CZ) p
Osobní jm.-sekund.o	Dušková Hana Na Kočově 180, Chotutice 28103 (CZ) z
Osobní jm.-sekund.o	Ganev Nikolaj Praha 6 (CZ) p
Osobní jm.-sekund.o	Kolařík Kamil České Budějovice (CZ) p
Osobní jm.-sekund.o	Pala Zdeněk Zlín (CZ) p
Korpor.,akce-sek.o.	Praha 1 (CZ) m
Zdroj.pův.katalog.	CZ ÚPV 20150715
Zdroj.pův.katalog.	CZ OLA001 20150803
Sigla,sign.vlastn.	OLA001 305286
Počet exemplářů	1
Logická báze	B6
Katalogizátor	20150803 SVK06 1402