Katalog Vědecké knihovny v Olomouci, báze SVK06, záznam 000305779

Navigace: http://aleph.vkol.cz/pub / svk06 / 00030xxxx / 0003057xx / 000305779.htm

Chcete-li získat tento dokument, vstupte přímo do katalogu. Získat dokument z katalogu.
If you want to get more information about the document, enter the online catalog. Get the item from catalog.

FormátBK
Návěští-----nam--22--------450-
Identif.č.záznamuupv000305779
Datum+čas posl.zpr.62004
Všeob.údaje zprac.20150108d2016----km-y0czey0103----ba
Jazyk popisné jedn.cze
Země vydání dokum.CZ
Název a odpovědnostSoustava pro měření mřížkového parametru zejména na monokrystalických vzorcích a polykrystalických materiálech System to measure lattice parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials
Nakladatelské údajePraha Úřad průmyslového vlastnictví 2016
Obecné poznámkyČíslo přihlášky: 2015-7
Obecné poznámkyDatum podání přihlášky: 20150108
Obecné poznámkyDatum zveřejnění přihlášky: 20160309
Souběžný názevSystem to measure lattice parameter, especially on single crystal samples and polycrystalline materials
Další system.sel.j.G01N 23/20 MPT
Další system.sel.j.G01N 23/207 MPT
Další system.sel.j.G21K 1/06 MPT
Osobní jm.-sekund.oDrahokoupil Jan Praha 10 (CZ) p
Osobní jm.-sekund.oDušková Hana Na Kočově 180, Chotutice 28103 (CZ) z
Osobní jm.-sekund.oGanev Nikolaj Praha 6 (CZ) p
Osobní jm.-sekund.oKolařík Kamil České Budějovice (CZ) p
Korpor.,akce-sek.o.České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Praha 1 (CZ) m
Zdroj.pův.katalog.CZ ÚPV 20160309
Zdroj.pův.katalog.CZ OLA001 62004
Sigla,sign.vlastn.OLA001 305779
Počet exemplářů1
Logická bázeB6
Katalogizátor20160401 SVK06 0810